崗位職責(zé)：
1.負(fù)責(zé)芯片功能、性能及可靠性測(cè)試方案設(shè)計(jì)與用例開(kāi)發(fā)，覆蓋CP/FT/SLT等測(cè)試階段
2.搭建和維護(hù)ATE測(cè)試平臺(tái)（如Advantest、Teradyne等），完成測(cè)試程序調(diào)試與優(yōu)化
3. 分析測(cè)試數(shù)據(jù)與失效模式，協(xié)同設(shè)計(jì)、工藝團(tuán)隊(duì)定位問(wèn)題根因并推動(dòng)改進(jìn)
4.編寫(xiě)測(cè)試報(bào)告、作業(yè)指導(dǎo)書(shū)及標(biāo)準(zhǔn)操作流程，保障測(cè)試一致性與可追溯性
5.參與新芯片項(xiàng)目DFT評(píng)審，提出可測(cè)性設(shè)計(jì)建議，提升量產(chǎn)測(cè)試覆蓋率與效率

任職要求：
1. 本科及以上學(xué)歷，微電子、電子工程、自動(dòng)化、計(jì)算機(jī)等相關(guān)專業(yè)優(yōu)先
2.具備2年以上芯片測(cè)試或半導(dǎo)體相關(guān)工作經(jīng)驗(yàn)，熟悉數(shù)字/模擬/混合信號(hào)芯片測(cè)試原理
3. 熟練使用C/C++/Python進(jìn)行測(cè)試腳本開(kāi)發(fā)，掌握Perl/Tcl者加分
4.了解JTAG、Boundary Scan、ScanChain等DFT結(jié)構(gòu)，有ATE平臺(tái)調(diào)試經(jīng)驗(yàn)者優(yōu)先
5. 具備良好的邏輯分析能力、跨部門協(xié)作意識(shí)及英文技術(shù)文檔閱讀能力