1）參與新型存儲芯片研發(fā)階段的測試方案研討與技術決策；
2）依據芯片設計規(guī)格，編寫芯片測試程序，并評審配套的Loadboard、Probecard等硬件設計方案；
3）完成新型存儲芯片測試程序及硬件環(huán)境的調試與驗證，確保功能準確、穩(wěn)定可靠且操作便捷；
4）編制相關測試技術文檔，對內部用戶進行培訓，協助解決使用過程中遇到的技術問題與異常；
5）持續(xù)改進測試流程，提升測試效率，降低測試成本，從測試維度支持新產品順利導入量產。

任職資格：
1）具備三年以上ATE測試程序開發(fā)經驗，掌握C/C++及Python/Perl等腳本編程語言；能夠獨立完成芯片測試程序開發(fā)，有Magnum、S100平臺經驗者優(yōu)先；
2）了解Loadboard、Probecard等測試接口硬件的設計流程及核心性能指標；
3）具有扎實的電子電路理論基礎，熟悉數字與模擬電路原理及其測試方法；
4）具備良好的中英文溝通能力與團隊協作意識；工作認真細致，具備較強的責任心。